Berdasarkan fokus Anda sebelumnya pada instalasi, commissioning, dan pemecahan masalah sensor LVDT hot runner, kesalahan umum LVDT dalam skenario hot runner dapat dikategorikan sebagai berikut:
Kesalahan Mekanis:* Sambungan lengket atau longgar, sering kali disebabkan oleh ketidaksejajaran ekspansi termal pada hot runner dan getaran jangka panjang-, dapat menyebabkan data perpindahan berfluktuasi dan kegagalan mengikuti pergerakan katup jarum.
Kesalahan Sinyal: Pelindung saluran sinyal yang tidak efektif atau sambungan yang longgar, ditambah dengan interferensi elektromagnetik yang kuat, dapat menyebabkan penyimpangan nilai keluaran dan fluktuasi yang tidak teratur, sehingga perolehan sinyal perpindahan yang stabil tidak mungkin dilakukan.
Kesalahan Lingkungan: Paparan yang terlalu lama ke area-bersuhu tinggi dapat menyebabkan penuaan koil internal, yang mengakibatkan penurunan sensitivitas keluaran dan pergeseran titik nol, sehingga mengurangi akurasi deteksi tingkat mikron.
Kesalahan Kalibrasi: Kegagalan mengkalibrasi ulang titik nol dalam kondisi panas dapat menyebabkan pergeseran referensi karena ekspansi termal, menyebabkan penyimpangan data perpindahan langkah{0}}penuh dan secara langsung memengaruhi akurasi kontrol katup jarum. Kegagalan perangkat keras: Sirkuit pendek/terbuka pada koil atau pematrian pada sirkuit internal dapat mengakibatkan output sinyal sama sekali tidak ada, yang secara langsung menyebabkan kontrol katup jarum hot runner gagal dan memicu alarm sistem dan trip.
